AEC-Q101對對各類半導(dǎo)體分立器件的車用可靠性要求進(jìn)行了梳理。AEC-Q101試驗(yàn)不僅是對元器件可靠性的國際通用報(bào)告，更是打開車載供應(yīng)鏈的敲門磚。 百檢檢測在SiC第三代半導(dǎo)體器件的AEC-Q認(rèn)證上具有豐富的實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)，為您提供專業(yè)可靠的AEC-Q101認(rèn)證服務(wù)，同時，我們也開展了間歇工作壽命（IOL）、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮（Autoclave）試驗(yàn)服務(wù)，設(shè)備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導(dǎo)體器件的可靠性試驗(yàn)?zāi)芰Α?/span>

服務(wù)介紹

       隨著技術(shù)的進(jìn)步，各類半導(dǎo)體功率器件開始由實(shí)驗(yàn)室階段走向商業(yè)應(yīng)用，尤其以SiC為代表的第三代半導(dǎo)體器件國產(chǎn)化的腳步加快。但車用分立器件市場均被國外巨頭所把控，國產(chǎn)器件很難分一杯羹，主要的原因之一即是可靠性得不到認(rèn)可。

測試周期：

       2-3個月，提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測試等服務(wù)

產(chǎn)品范圍：

       二、三極管、晶體管、MOS、IBGT、TVS管、Zener、閘流管等半導(dǎo)體分立器件

測試項(xiàng)目：