GJB150.4A低溫試驗方法規(guī)定了軍用電子設(shè)備低溫環(huán)境試驗方法是制定軍用設(shè)備技術(shù)條件或產(chǎn)品條件的基礎(chǔ)。本標準適用于可能遇到低溫環(huán)境的軍用設(shè)備。
GJB150.4A低溫試驗試驗目的：考核軍用設(shè)備在低溫條件下貯存和工作的適應性。
GJB150.4A低溫試驗條件：低溫貯存溫度：-55度，貯存24小時。工作溫度沒有作強制的要求，可根據(jù)自身產(chǎn)品使用環(huán)境選擇溫度。
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